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1061.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Analytical Model and Characterization of Abnormally Structured MOSFETs/ 미리보기
저자
Lee, J-S
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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1062.
서명
PAPERS - Silicon Devices - A Physical Model for Hole Direct Tunneling Current in P+ Poly-Gate PMOSFETs with Ultrathin Gate Oxides/ 미리보기
저자
Yang, K-N
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1063.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Characteristics of P- and N-Channel Poly-Si/Si1-xGex/Si Sandwiched Conductivity Modulated Thin-Film Transistors/ 미리보기
저자
Zhu, C
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1064.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Chemical Reaction Concerns of Gate Metal with Gate Dielectric in Ta Gate MOS Devices: An Effect of Self-Sealing Barrier Configuration Interposed Between Ta and SiO2/ 미리보기
저자
Ushiki, T
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1065.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Coulomb Blockade Memory Using Integrated Single-Electron Transistor/Metal-Oxide-Semiconductor Transistor Gain Cells/ 미리보기
저자
Durrani, Z A K
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1066.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Critical Discussion on Unified 1/f Noise Models for MOSFETs/ 미리보기
저자
Vandamme, E P
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1067.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Density-Gradient Analysis of MOS Tunneling/ 미리보기
저자
Ancona, M G
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1068.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Embedded HIMOS(R) Flash Memory in 0.35 mm and 0.25 mm CMOS Technologies/ 미리보기
저자
Wellekens, D
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1069.
서명
PAPERS - Silicon Devices - FinFET -- A Self-Aligned Double-Gate MOSFET Scalable to 20 nm/ 미리보기
저자
Hisamoto, D
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1070.
서명
PAPERS - Silicon Devices - High-Performance and High-Reliability 8-nm Gate-Length DTMOS with Indium Super Steep Retrograde Channel/ 미리보기
저자
Chang, S-J
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1071.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Injection Efficiency of CHISEL Gate Currents in Short MOS Devices: Physical Mechanisms, Device Implications, and Sensitivity to Technological Parameters/ 미리보기
저자
Esseni, D
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1072.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Polysilicon Quantization Effects on the Electrical Properties of MOS Transistors/ 미리보기
저자
Spinelli, A S
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1073.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Power SI-MOSFET Operating with High Efficiency Under Low Supply Voltage/ 미리보기
저자
Ohguro, T
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1074.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Semiconductor Thickness and Back-Gate Voltage Effects on the Gate Tunnel Current in the MOS/SOI System with an Ultrathin Oxide/ 미리보기
저자
Majkusiak, B
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1075.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Short Channel Epi-MOSFET Model/ 미리보기
저자
Suzuki, K
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1076.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Silicon-on-Nothing (SON) -- An Innovative Process for Advanced CMOS/ 미리보기
저자
Jurczak, M
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1077.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Simulation and Optimization of Metal-Insulator-Semiconductor Inversion-Layer Silicon Solar Cells/ 미리보기
저자
Kuhlmann, B
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1078.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Thermal Stability of CoSi2 Film for CMOS Salicide/ 미리보기
저자
Ohguro, T
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1079.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Threshold Voltage Reduction Model for Buried Channel PMOSFETs Using Quasi-2-D Poisson Equation/ 미리보기
저자
Lee, Y-T
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
1080.
서명
PAPERS - Silicon Devices - Tunneling into Interface States as Reliability Monitor for Ultrathin Oxide/ 미리보기
저자
Ghetti, A
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
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