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1.
서명
Quantitative comparison of structural parameters of magnetic multilayersobtained by diffraction methods and by direct imaging techniques- II Intralayer structure 미리보기
저자
Chladek, M
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
1997
자료유형
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원문제공마감년
2.
서명
Quantitative comparison of structural parameters of magnetic multilayersobtained by diffraction methods and by direct imaging techniques- I Interlayer structure 미리보기
저자
Chladek, M
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
1997
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
3.
서명
Quantitative in situ x-ray diffraction analysis of magnetic multilayers during annealing 미리보기
저자
Chladek, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
4.
서명
Quantitative study of interface roughness replication in multilayers using x-ray reflectivity and transmission electron microscopy 미리보기
저자
Chladek, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
1 

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