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41.
서명
Quantitative analysis of piezoelectricity in simultaneously stretched and corona poled polyvinyl chloride films 미리보기
저자
Bharti, V
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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42.
서명
Quantitative analysis of radiation induced Si/SiO~2 interface defects bymeans of MeV He single ion irradiation 미리보기
저자
Koh, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
43.
서명
Quantitative analysis of the nitrogenation process in Y~2Fe~1~7N~x basedon a two-region configuration 미리보기
저자
Yang, D. P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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44.
서명
Quantitative assessment of the effects of carrier screening on the average electric field in a GaAs-based p-i-n nanostructure under subpicosecondlaser excitation 미리보기
저자
Tsen, K. T
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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45.
서명
Quantitative calculation of spontaneous polarization in ferroelectric liquid crystals 미리보기
저자
Terzis, A. F
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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46.
서명
Quantitative characterization of additional ferromagnetic phase in melt-quenched and sintered Nd-Fe-B-based magnets 미리보기
저자
Lewis, L. H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
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47.
서명
Quantitative C lattice site distributions in epitaxial Ge1-yCy/Ge(001) layers/ 미리보기
저자
D'Arcy-Gall, J
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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48.
서명
Quantitative comparisons of dissolved hydrogen density and the electrical and optical properties of ZnO/ 미리보기
저자
Seager, C. H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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49.
서명
Quantitative compositional analysis of InAs/GaAs quantum dots by scanning transmission electron microscopy/ 미리보기
저자
Zhi, D
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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50.
서명
Quantitative correlation between the local coercivity variation and magnetization reversal dynamics in Co/Pd multilayer thin films/ 미리보기
저자
Jang, H.-J
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
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51.
서명
Quantitative evaluation of fabrication processes of proton-exchanged layers in LiTaO3 optoelectronic devices by the line-focus-beam ultrasonic material characterization system/ 미리보기
저자
Kushibiki, J
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
52.
서명
Quantitative field measurements from magnetic force microscope tips and comparison with point and extended charge models/ 미리보기
저자
Mcvitie, S
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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53.
서명
Quantitative imaging of magnetic domain walls in thin films using Lorentz and magnetic force microscopies/ 미리보기
저자
Mcvitie, Stephen
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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54.
서명
Quantitative imaging of nanoscale mechanical properties using hybrid nanoindentation and force modulation/ 미리보기
저자
Syed Asif, S A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
55.
서명
Quantitative in situ x-ray diffraction analysis of magnetic multilayers during annealing 미리보기
저자
Chladek, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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56.
서명
Quantitative investigation of localized ion irradiation effects in n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors using single ion microprobe 미리보기
저자
Koh, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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57.
서명
Quantitative long-range-order measurement and disordering efficiency estimation in ion-irradiated bulk Ni3Al using cross-sectional conventional transmission electron microscopy/ 미리보기
저자
de Almeida, P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
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58.
서명
Quantitative magnetic field measurements with the magnetic force microscope 미리보기
저자
Proksch, R
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
59.
서명
Quantitative magneto-optic field imaging of recording heads 미리보기
저자
Heidmann, J
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
60.
서명
Quantitative mobility spectrum analysis of multicarrier conduction in semiconductors 미리보기
저자
Meyer, J. R
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
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