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521.
서명
SPECIAL SECTION ON MOTOR FAULT DETECTION AND DIAGNOSIS - Induction Machine Condition Monitoring with Higher Order Spectra/ 미리보기
저자
Arthur, N
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
522.
서명
SPECIAL SECTION ON MOTOR FAULT DETECTION AND DIAGNOSIS - Neural-Network-Based Motor Rolling Bearing Fault Diagnosis/ 미리보기
저자
Li, B
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
523.
서명
SPECIAL SECTION ON MOTOR FAULT DETECTION AND DIAGNOSIS - Oil Well Diagnosis by Sensing Terminal Characteristics of the Induction Motor/ 미리보기
저자
Wilamowski, B M
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
524.
서명
SPECIAL SECTION ON MOTOR FAULT DETECTION AND DIAGNOSIS - Recent Developments of Induction Motor Drives Fault Diagnosis Using AI Techniques/ 미리보기
저자
Filippetti, F
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
525.
서명
SPECIAL SECTION ON MOTOR FAULT DETECTION AND DIAGNOSIS - Sequences of Field-Oriented Control for the Detection of Faulty Rotor Bars in Induction Machines -- The Vienna Monitoring Method/ 미리보기
저자
Kral, C
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
526.
서명
SPECIAL SECTION ON MOTOR FAULT DETECTION AND DIAGNOSIS - The Detection of Inter-Turn Short Circuits in the Stator Windings of Operating Motors/ 미리보기
저자
Joksimovic, G
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
527.
서명
SPECIAL SECTION ON SOFTWARE ENGINEERING EDUCATION AND TRAINING - EDITORIAL /// 미리보기
저자
Batchman, T E
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
528.
서명
SPECIAL SECTION ON SOFTWARE ENGINEERING EDUCATION AND TRAINING - Preface to the Special Section on Software Engineering Education and Training/ 미리보기
저자
Mengel, S A
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
529.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - 2000 INDEX /// 미리보기
저자
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
530.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - ANNOUNCEMENTS - Call for Papers: 2001 International SOI Conference /// 미리보기
저자
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
531.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - ANNOUNCEMENTS - CPMT Puts All Past Transactions on CD-ROM Set/ 미리보기
저자
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
532.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - CORRESPONDENCE - Derivation of a Nonlinear Variance Equation and its Application to SOI Technology/ 미리보기
저자
Rowlands, D
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
533.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - Guest Editorial/ 미리보기
저자
Masuda, H
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
534.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - A Study on Rm --> R1 Maps: Application to a 0.16mm Via Etch Process Endpoint/ 미리보기
저자
Rietman, E A
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
535.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Capture Rate Enhance Method of 0.1-mm Level Defects by Pattern-Matching Inspectors/ 미리보기
저자
Sakurai, K
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
536.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Intelligent Quality Controllers for On-Line Parameter Design/ 미리보기
저자
Chinnam, R B
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
537.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Real-Time Control of Reactive Ion Etching Using Neural Networks/ 미리보기
저자
Stokes, D
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
538.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Reducing Airborne Molecular Contamination by Efficient Purging of FOUPs for 300-mm Wafers -- The Influence of Materials Properties/ 미리보기
저자
Frickinger, J
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
539.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Scalability Study of Laser-Induced Vertical Make-Link Structure/ 미리보기
저자
Lee, J-H
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
540.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Thermal Uniformity of 12-in Silicon Wafer During Rapid Thermal Processing by Inverse Heat Transfer Method/ 미리보기
저자
Lin, S
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
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