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[가나다ABC : X]
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제한항목
기사
1995
검색결과제한
자료유형
기사
(13)
저자
Ionov, A.M
(1)
Korotkikh, V.L
(1)
Li, F
(1)
Li, Z
(1)
Majumdar, S. K.
(1)
Majumdar, Sumit K
(1)
Rooks, S.
(1)
Sheridan, John H
(1)
Srivastava, S. C
(1)
Terreaux, C
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Troc, R
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Yu, S
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임규홍
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출판사
North-Holland Pub. Co
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Chapman and Hall
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忠南大學校 工科大學 産業技術硏究所
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발행년도
1995
(13)
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서명
저자
발행처
원문제공시작년
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5
10
15
20
30
50
100
1.
서명
The XRCC4 Gene Encodes a Novel Protein Involved in DNA Double-Strand Break Repair and V(D)J Recombination
저자
Li, Z
발행처
MIT Press
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
2.
서명
Xanthones from Schultesia Lisianthoides
저자
Terreaux, C
발행처
Pergamon Press
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3.
서명
X-efficiency in emerging competitive markets: The case of U.S. telecommunications
저자
Majumdar, Sumit K
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
4.
서명
X-efficiency in emerging competitive markets: The case of U.S. telecommunications
저자
Majumdar, S. K.
발행처
ELSEVIER
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
5.
서명
XEL Communications
저자
Sheridan, John H
발행처
Penton/IPC
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
6.
서명
XPS Research of Pd/GaAs(100) Interfaces Kept at Low (~150 K) Temperatures /
저자
Korotkikh, V.L
발행처
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
7.
서명
X-ray and neutron diffraction studies of UPdSn
저자
Troc, R
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
8.
서명
X-ray diffraction and Moessbauer studies of the (Fe~1~-~xNi~x)~4N compounds (0 �x �0.5)
저자
Li, F
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
9.
서명
X-ray fluorescence study of fine powders of wolframite ores with SiO~2 and WO~3 major phases
저자
Srivastava, S. C
발행처
Chapman and Hall
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
10.
서명
X-ray Inspection of Flip Chip Attach Using Digital Tomosynthesis
저자
Rooks, S.
발행처
WELA PUBLICATIONS LTD
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
11.
서명
X-Ray Photoelectron Spectroscopy of the Europium Monochalcogenides EuX (100) Surfaces /
저자
Ionov, A.M
발행처
VSV Co. Ltd
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
12.
서명
Xylulose fermentation by Saccharomyces cerevisiae and xylose-fermenting yeast strains
저자
Yu, S
발행처
Springer International
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
13.
서명
X선 회절에 의한 SiO2/Si 및 poly-Si/SiO2/Si 계면의 응력측정 분석 =
저자
임규홍
발행처
忠南大學校 工科大學 産業技術硏究所
원문제공시작년
1995
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1
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