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941.
서명
X-ray reciprocal space mapping of a (112) oriented HgTe/Hg~0~.~1Cd~0~.~9Te superlattice
저자
Li, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
942.
서명
X-ray reciprocal-space mapping of strain relaxation and tilting in linearly graded InAlAs buffers
저자
Olsen, J. A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
943.
서명
X-ray reciprocal space mapping of strain relaxation in GaAs~1~-~xN~x on GaAs [100] by molecular-beam epitaxy/
저자
Cheah, W. K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
944.
서명
X-ray refinement of the structure of cubic telluric acid
저자
FALCK, LENNART
발행처
Published for the International Union of Crystallography by Munksgaard
원문제공시작년
1978
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
945.
서명
X-ray Refinement of the Structure of [N,N'-(3-Aza-1,5-pentanediyl)bis(salicylideneiminato)]dioxouranium(Ⅵ)/
저자
BENETOLLO, F
발행처
Published for the International Union of Crystallography by Munksgaard
원문제공시작년
1979
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
946.
서명
X-ray reflection anomalous fine structure analysis of the stability of permalloy/copper multilayers/
저자
Luo, G M
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
947.
서명
X-ray reflection anomalous fine structure analysis of the stability of permalloy/copper multilayers/
저자
Luo, G M
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
948.
서명
X-ray reflection in Galactic black hole candidates: smeared edge profiles and resonant Auger destruction
저자
Ross, R. R
발행처
Priestley and Weale
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
949.
서명
X-ray reflectivity: a new tool for the study of glass surfaces
저자
Grimal, J. M
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
950.
서명
X-ray reflectivity determination of interface roughness correlated with transport properties of (AlGa)As/GaAs high electron mobility transistor devices
저자
Dura, J. A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
951.
서명
X-ray reflectivity of self-assembled structures in SiGe multilayers and comparison with atomic force microscopy/
저자
Meduna, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
952.
서명
X-ray reflectivity study of behenic acid Langmuir-Blodgett mono- and multilayers on SiO~2 surfaces as-deposited and after thermal treatment: Influence of substrate/film interactions on molecular ordering and film topology
저자
Asmussen, A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
953.
서명
X-ray, reflectivity study on gold films during sputter deposition
저자
Chiarello, R. P
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
954.
서명
X-ray refraction effects: application to the imaging of biological tissues/
저자
Lewis, R. A
발행처
British Institute of Radiology
원문제공시작년
2003
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
955.
서명
X-ray refractive planar lens with minimized absorption/
저자
Aristov, V
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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956.
서명
X-Ray Reprocessing by a Molecular Torus in the Seyfert 1.9 Galaxy NGC 2992
저자
Weaver, K. A
발행처
Published by the University of Chicago Press for the American Astronomical Society
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
957.
서명
X-ray resonant scattering studies of charge and orbital ordering in Pr1-xCaxMnO3
저자
Zimmermann, M v
발행처
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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958.
서명
X-ray resonant scattering studies of orbital and charge ordering in Pr1-xCaxMnO3 (17 pages)/
저자
Zimmermann, M v
발행처
Published for the American Physical Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
959.
서명
X-ray resonant scattering study of an intermediate-valence Ho-Ce alloy/
저자
Goff, J P
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
960.
서명
X-ray resonant scattering study of an intermediate-valence Ho-Ce alloy/
저자
Goff, J P
발행처
North-Holland Pub. Co
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
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