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Galeckas, A
2001
검색결과제한
자료유형
기사
(1)
저자
Galeckas, A
(1)
출판사
American Institute of Physics
(1)
발행년도
2001
(1)
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1.
서명
Application of optical emission microscopy for reliability studies in 4H-SiC p+/n-/n+ diodes/
저자
Galeckas, A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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